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MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：6

题名/责任者:
An integrated circuit engineering report : selected reliability topics.
出版发行项:
Phoenix, Arizona : ICE, 1968.
载体形态项:
32 p. 28 cm
论题主题:
Microelectronics.
中图法分类号:
TN406
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN406/I61 010085334   外文书库     可借 外文书库
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