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MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:3

题名/责任者:
Introduction to analytical electron microscopy / edited by John J. Hren, Joseph I. Goldstein, and David C. Joy.
出版发行项:
New York : Plenum Press, c1979.
ISBN:
0306402807
载体形态项:
xv, 601 p. : ill. ; 27 cm.
团体责任者:
Microbeam Analysis Society.
附加个人名称:
Hren, John J.
附加个人名称:
Goldstein, Joseph, 1939-
附加个人名称:
Joy, David C., 1943-
附加团体名称:
Microbeam Analysis Society.
论题主题:
Electron microscopy.
中图法分类号:
TN153-53
一般附注:
"Proceedings of a workshop on analytical electron microscopy, held in San Antonio, Texas, August 13-14, 1979, as part of the joint meeting of the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society."
书目附注:
Includes bibliographies and index.
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN153-53/M626 010076351   外文书库     可借 外文书库
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