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题名/责任者:

材料的透射电子显微学与衍射学/(美) 布伦特·福尔兹, 詹姆斯·豪著 吴自勤 ... [等] 译

出版发行项:

合肥:中国科学技术大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-312-03749-8/CNY99.00

载体形态项:

xi, 657页:图;24cm

统一题名:

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

丛编项:

物理学名家名作译丛

个人责任者:

富尔茨 (Fultz, Brent) 著

个人责任者:

豪 (Howe, James) 著

个人次要责任者:

吴自勤 译

学科主题:

工程材料-透射电子显微术

学科主题:

工程材料-X射线衍射

中图法分类号:

TB302

一般附注:

“十三五”国家重点图书出版规划项目

责任者附注:

责任者Fultz规范汉译姓: 富尔茨

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书内容包括: 衍射和X射线粉末衍射仪、TEM及其电子光学、中子散射、散射、非弹性电子散射和谱学、晶体衍射、电子衍射和结晶学、TEM衍射衬度像、衍射线形、帕特森函数和漫散射、高分辨TEM像、高分辨STEM和相关成像技术、动力学理论等。

使用对象附注:

物理科学的大学生和研究生

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