MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：2
- 题名/责任者:
- Scanning Electro Microscopy An internation journal of scanning electron microscopy,related techniques,and applications 2 ed.by R.P.Becker
- 出版发行项:
- Chhicago Scanning Electron Microscopy,Inc 1985.
- 载体形态项:
- 9.4p. ill. 24cm
- 附加个人名称:
- Becker,R.P.
- 中图法分类号:
- TN16
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