MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:2
- 题名/责任者:
- 太赫兹光电测试技术/谭智勇, 曹俊诚著
- 出版发行项:
- 上海:华东理工大学出版社,2020.10
- ISBN及定价:
- 978-7-5628-6102-7 精装/CNY278.00
- 载体形态项:
- 254页:彩图;24cm
- 丛编项:
- 战略前沿新技术
- 丛编项:
- 太赫兹出版工程;9
- 个人责任者:
- 谭智勇 著
- 个人责任者:
- 曹俊诚 著
- 学科主题:
- 电磁辐射-研究
- 学科主题:
- 光电检测-测试技术
- 中图法分类号:
- O441.4
- 中图法分类号:
- TN206
- 中图法分类号:
- O441.4-51
- 一般附注:
- 上海出版资金项目
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发, 介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点, 阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点, 最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
O441.4-51/H253/9 | 004176486 | 自然科学书库 | 可借 | 不定馆藏地 |
显示全部馆藏信息