MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：13
- 题名/责任者:
- 半导体器件及电路的可靠性与退化/(英)豪斯，摩根主编 李锦林等译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1989.10
- ISBN及定价:
- /CNY16.40
- 载体形态项:
- 463页;21厘米
- 个人责任者:
- 豪斯 主编
- 个人责任者:
- 摩根
- 个人次要责任者:
- 李锦林等 译
- 科图法分类号:
- 73.7314
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| 73.7314/31 | 001390405 |  密集书库
|
可借 | |
| 73.7314/31 | 001390406 | 密集书库
|
可借 | |
| 73.7314/31 | 001390407 | 密集书库
|
可借 |
显示全部馆藏信息