MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：12
- 题名/责任者:
- 半导体的检测与分析/许振嘉主编
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2007.8
- ISBN及定价:
- 978-7-03-019462-6 精装/CNY98.00
- 载体形态项:
- 635页:图;24cm
- 丛编项:
- 半导体科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 许振嘉 主编
- 学科主题:
- 半导体材料-检测-分析
- 中图法分类号:
- TN304.07
- 一般附注:
- 中国科学院科学出版基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要分为七章，介绍了半导体晶体的高分辩X射线衍射，光学性质检分析等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN304.07/X981B | 000768439 | - |  工业技术书库
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可借 | |
| TN304.07/X981B | 000768440 | - | 工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
| TN304.07/X981B | 000768441 | - | 工业技术书库
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可借 |
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