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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3

题名/责任者:
半导体测量和仪器/(美)鲁尼安编著 上海科技大学译
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1980.7
ISBN及定价:
/CNY1.15
载体形态项:
322页;19厘米
个人责任者:
鲁尼安 编著
团体次要责任者:
上海科技大学 译
中图法分类号:
TN3
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