MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：29
- 题名/责任者:
- 材料现代测试分析方法/主编刘庆锁
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2014
- ISBN及定价:
- 978-7-302-37444-2/CNY39.00
- 载体形态项:
- 328页:图;26cm
- 个人责任者:
- 刘庆锁 主编
- 学科主题:
- 材料-测试-分析方法
- 中图法分类号:
- TB302
- 书目附注:
- 有书目 (第327-328页)
- 提要文摘附注:
- 本书包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TB302/L661 | 000955319 | - |  工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
| TB302/L661 | 000955320 | - | 工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
| TB302/L661 | 000955321 | - | 工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
| TB302/L661 | 000955322 | - | 工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
| TB302/L661 | 000955323 | - | 工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
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