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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：4

题名/责任者:
集成电路可靠性/上海冶金研究所编译
出版发行项:
上海:上海科学技术情报研究所,1972
ISBN及定价:
/CNY0.40
载体形态项:
64页;26cm
团体责任者:
上海冶金研究所 编译
学科主题:
集成电路工艺-可靠性试验
中图法分类号:
TN406
科图法分类号:
73.755
一般附注:
非正式出版物
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