MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：3
- 题名/责任者:
- X-ray wavelengths for spectrometer : Bragg angles for crystals, ADP, EDT quartz 6.68, Si, NaCl, LiF, quartz 2.75, topaz, gypsum, PET, including X-ray absorption edges and all principle X-ray emission lines.
- 版本说明:
- 3rd ed.
- 出版发行项:
- Milwaukee : s.n., 1964.
- 载体形态项:
- 1 v. (various pagings) ; 29 cm.
- 团体责任者:
- General Electric Company. X-Ray Dept.
- 论题主题:
- X-ray spectroscopy-Tables.
- 中图法分类号:
- O434.13
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| O434.13/G326(3) | 010072805 |  外文书库
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可借 | 外文书库 | |
| O434.13/G326(3) | 010072806 | 外文书库
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可借 | 外文书库 | |
| O434.13/G326(3) | 010081294 | 外文书库
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