MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 电子元器件失效分析与典型案例/孔学东, 恩云飞主编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-118-04619-1/CNY150.00
- 载体形态项:
- 260页:图;26cm
- 个人责任者:
- 孔学东 主编
- 个人责任者:
- 恩云飞 主编
- 学科主题:
- 电子元件-失效分析
- 中图法分类号:
- TN601
- 提要文摘附注:
- 本书分为基础篇和案例篇。基础篇阐述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具；案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件等。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN601/K875 | 000737438 | - |  工业技术书库
|
可借 |
| TN601/K875 | 000737439 | - | 工业技术书库
|
可借 |
| TN601/K875 | 000737440 | - | 工业技术书库
|
可借 |
显示全部馆藏信息