MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：2
- 题名/责任者:
- 半导体器件参数快速综合测试仪/罗静成著
- 出版发行项:
- 北京:人民邮电出版社,1980.4
- ISBN及定价:
- /CNY1.05
- 载体形态项:
- 369页:插页5;19厘米
- 个人责任者:
- 罗静成 著
- 科图法分类号:
- 73.72
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| 73.72/211 | 001201691 |  密集书库
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| 73.72/211 | 001201692 | 密集书库
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