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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：10

题名/责任者:
微电子测试结构/孙为编
出版发行项:
上海:华东师范大学出版社,1984.11
ISBN及定价:
/CNY1.00
载体形态项:
177页;21厘米
个人责任者:
孙为 编
科图法分类号:
73.75157
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
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