MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-03-030576-3 精装/CNY68.00
- 载体形态项:
- x, 433页:图;25cm
- 其它题名:
- 容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误
- 个人责任者:
- 李晓维 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 出版发行附注:
- 中国科学院科学出版基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目和索引
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN431.2/L895 | 000804372 | - |  工业技术书库
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| TN431.2/L895 | 000804373 | - | 工业技术书库
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| TN431.2/L895 | 000804374 | - | 工业技术书库
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| TN431.2/L895 | 000804375 | - | 工业技术书库
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| TN431.2/L895 | 000804376 | - | 工业技术书库
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