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题名/责任者:

抗辐射集成电路概论/韩郑生编著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2011.04

ISBN及定价:

978-7-302-24547-6/CNY30.00

载体形态项:

17, 202页:图;26cm

并列正题名:

Introduction to radiation hardened integrated circuit

丛编项:

微电子与集成电路技术丛书

个人责任者:

韩郑生 编著

学科主题:

抗辐射性-集成电路

中图法分类号:

TN4

书目附注:

有书目 (第200-202页)

提要文摘附注:

本书介绍了怎样研制集成电路才能满足在辐射环境中的特殊要求，内容涉及辐射环境、辐射效应的背景知识；双极集成电路和CMOS集成电路辐射加固技术等。

使用对象附注:

高等学校电子科学与技术类专业学生

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