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题名/责任者:

先进干涉检测技术与应用/杨甬英等编著

出版发行项:

杭州:浙江大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-308-17109-0/CNY52.00

载体形态项:

390页:图;26cm

并列正题名:

Advanced interferometry and application

丛编项:

高等院校光电类专业系列规划教材

个人责任者:

杨甬英 编著

学科主题:

光学干涉仪-检测

中图法分类号:

TH744.3

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书系统地论述了先进干涉检测技术所涉及的各方面光学原理及其应用。主要内容包括: 干涉检测相关光学原理、常用干涉仪、共路干涉仪、剪切干涉仪、点衍射干涉仪、位相调制技术、非球面检测技术、干涉光谱技术、干涉图处理技术等。

使用对象附注:

本书可作为光电信息科学与工程相关专业本科及研究生的专业课教材, 也可作为光学精密仪器及光机电一体化相关科研工作者的参考书

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