MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：7
- 题名/责任者:
- 现代集成电路测试技术/《现代集成电路测试技术》编写组[编] 时万春主编
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-5025-8131-6/CNY95.00
- 载体形态项:
- 540页;26cm
- 个人责任者:
- 时万春 (1933.11~) 主编
- 团体次要责任者:
- 《现代集成电路测试技术》编写组 编
- 学科主题:
- 集成电路
- 学科主题:
- 集成电路-测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 提要文摘附注:
- 本书分为上、下篇。上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字/模拟/数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN407/S844 | 000762084 | - |  工业技术书库
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可借 | 不定馆藏地 |
| TN407/S844 | 000762085 | - | 工业技术书库
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可借 | |
| TN407/S844 | 000762086 | - | 工业技术书库
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可借 |
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