MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：13
- 题名/责任者:
- 软件缺陷模式与测试/宫云战 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-03-031726-1/CNY56.00
- 载体形态项:
- 268页:图;24cm
- 个人责任者:
- 宫云战 著
- 学科主题:
- 软件-测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 书目附注:
- 有书目 (第265-268页)
- 提要文摘附注:
- 本书全面论述了基于缺陷模式软件测试的一般方法, 包括软件缺陷的综合论述、面向C/C++/Java的软件缺陷模式的分类、各种软件缺陷模式的定义、基于缺陷模式的软件测试原理、提高测试精度的区间运算技术、敏感路径分析技术、函数间分析技术等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TP311.5/G939 | 000801129 | - |  计算机科学书库
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可借 |
| TP311.5/G939 | 000801132 | - | 计算机科学书库
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可借 |
| TP311.5/G939 | 000801128 | - | 密集书库
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| TP311.5/G939 | 000801130 | - | 密集书库
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可借 |
| TP311.5/G939 | 000801131 | - | 密集书库
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可借 |
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