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题名/责任者:

X射线衍射理论与实践.Ⅱ/黄继武, 李周等编著

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-122-38012-8/CNY46.00

载体形态项:

182页:图;26cm

并列正题名:

Theory and practice of X-ray diffraction.Ⅱ

个人责任者:

黄继武 编著

个人责任者:

李周 编著

学科主题:

X射线衍射-高等学校-教材

中图法分类号:

O434.1

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。专题应用包括: 宏观内应力的测量 (第1章) 、织构的测定与分析 (第2章) 和非晶态物质的X射线衍射分析 (第6章) 。每个专题应用都包括4个环节: 从基础理论开始, 导出实验原理和实验方法, 最后结合科研需要, 通过应用实例讲解, 进行操作技能培训, 并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。针对Rietveld全谱拟合精修方法, 第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础 ; 第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具, 提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。

使用对象附注:

教育部高等学校材料类专业教学指导委员会规划教材

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