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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：3

题名/责任者:
半导体器件失效分析/邓永孝著
出版发行项:
北京:宇航出版社,1991
ISBN及定价:
7-80034-363-4/CNY8.10
载体形态项:
297页;20cm
个人责任者:
邓永孝 著
学科主题:
半导体器件-失效分析
中图法分类号:
TN303
科图法分类号:
73.732
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN303/D936 000021749   工业技术书库     可借
TN303/D936 000021751   工业技术书库     可借 工业技术书库
TN303/D936 000021748   密集书库     可借 密集书库
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