安徽理工大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

Residual stresses and nanoindentation testing of films and coatings/Haidou Wang , Lina Zhu, Binshi Xu

出版发行项:

北京:科学出版社,[出版年不详]

ISBN及定价:

978-7-03-056731-4 精装/CNY120.00

载体形态项:

207页:图;24cm

个人责任者:

Wang Haidou 著

个人责任者:

Zhu Lina 著

个人责任者:

Xu Binshi 著

学科主题:

压痕-纳米技术-检测-残余应力-研究-英文

中图法分类号:

TB303.2

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书共分五章, 简单介绍了残余应力的形成机理及其对表面性能的影响, 系统归纳了传统的残余应力测量技术的原理及缺陷。本书重点介绍了先进的纳米压痕测量技术, 深入阐述了不同计算模型的测量原理、适用范围及缺陷, 并系统总结了不同模型在残余应力测量中的实际应用。所取材料主要是来自作者近年来的最新研究成果以及该领域同行学者的重要研究内容。

豆瓣简介：