MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：8
- 题名/责任者:
- 半导体器件可靠性/《半导体器件可靠性》编写组编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1978.3
- ISBN及定价:
- /CNY0.94
- 载体形态项:
- 372页;19厘米
- 团体责任者:
- 《半导体器件可靠性》编写组编
- 中图法分类号:
- TN306
- 科图法分类号:
- 73.7314
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| 73.7314/3542 | 001115147 |  密集书库
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| 73.7314/3542 | 001115148 | 密集书库
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| TN306/B263 | 004131070 | 密集书库
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| TN306/B263 | 004181081 | 密集书库
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