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题名/责任者:

互换性与技术测量基础/主编王莉静, 郝龙, 吴金文

出版发行项:

武汉:华中科技大学出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-5680-5976-3/CNY38.00

载体形态项:

229页:图;26cm

丛编项:

普通高等教育“十三五”规划教材暨智能制造领域人才培养规划教材.专业基础课

个人责任者:

王莉静 主编

个人责任者:

郝龙 主编

个人责任者:

吴金文 主编

学科主题:

零部件-互换性-高等学校-教材

学科主题:

零部件-技术测量-高等学校-教材

中图法分类号:

TG801

书目附注:

有书目 (第228-229页)

提要文摘附注:

本书分为9章，主要包括我国公差与配合方面的最新标准，阐述了技术测量的基本原理，主要包括绪论，测量技术基础，极限与配合，几何公差，表面粗糙度及其评定，光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计，常用典型件的互换性，圆柱齿轮公差与检测，尺寸链计算。

使用对象附注:

本书可作为高等院校机械类和近机械类师生的教材使用，也可供机械行业的工程技术人员及计量、检验人员参考。

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