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题名/责任者:

高速数字接口与光电测试/李凯著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2022.01

ISBN及定价:

978-7-302-59040-8/CNY178.00

载体形态项:

425页:图;26cm

并列正题名:

High speed digital interface and photoelectric test

个人责任者:

李凯 著

学科主题:

数字接口-接口技术

学科主题:

光电检测-测试技术

中图法分类号:

TN919.5

中图法分类号:

TN206

相关题名附注:

英文题名取自封面

责任者附注:

李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家。

提要文摘附注:

本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。

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