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  1. 中文图书1.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统 TN47/B755

    馆藏复本：3
    可借复本：3     (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
    电子工业出版社 2005
    (0) 馆藏

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