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中文图书1.基于TSV的三维堆叠集成电路的可测性设计与测试优化技术 TN402/D100
馆藏复本：3
可借复本：3 (美) 布兰登·戴, 蔡润波著
机械工业出版社 2024
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中文图书2.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/G116
馆藏复本：5
可借复本：5 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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