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中文图书1.国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察 TN307/Z352
馆藏复本:2
可借复本:2 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译
上海科学技术情报研究所 1974
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中文图书2.集成电路可靠性 73.755/2334Q1
馆藏复本:7
可借复本:7 上海冶金研究所编译
上海科学技术情报研究所 1972
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中文图书3.国外钛及钛合金的现状和发展动向:国外冶金
馆藏复本:2
可借复本:2 中国科学院上海冶金研究所编
上海科学技术情报研究所 1971
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