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中文图书1.先进倒装芯片封装技术 TN43/T384
馆藏复本:2
可借复本:2 唐和明, 赖逸少, (美) 汪正平主编
化学工业出版社 2017
(0) 馆藏 -
中文图书2.可靠性物理与工程:失效时间模型:time-to-failure modeling TB114.2/M447
馆藏复本:5
可借复本:5 (美) J. W. 麦克弗森著
科学出版社 2013
(0) 馆藏
馆藏复本:2
可借复本:2 唐和明, 赖逸少, (美) 汪正平主编
化学工业出版社 2017
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馆藏复本:5
可借复本:5 (美) J. W. 麦克弗森著
科学出版社 2013
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