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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/G116
馆藏复本：5
可借复本：5 (美) 桑迪普 K. 戈埃尔, (印) 科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编
机械工业出版社 2016
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中文图书2.基于片上去耦电容的配电网络 TN402/J462
馆藏复本：4
可借复本：4 (以色列) Renatas Jakushokas ... [等] 著
机械工业出版社 2014.02
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