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检索到 5 条 责任者=Edington, Jeffrey William. 的结果    

 


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  1. 西文图书1.The operation and calibration of the electron microscope / TN153/E23/1, TN153/E23/1-4, 71.221/E23:1

    馆藏复本：8
    可借复本：8     Edington, Jeffrey William.
    MacMillan, 1974.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Electron diffraction in the electron microscope / TN153/E23/2, 71.221/E23:2

    馆藏复本：6
    可借复本：6     Edington, Jeffrey William.
    Macmillan, 1975.
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.Electron microscope specimen preparation techniques in materials science / TN153/E23/5

    馆藏复本：4
    可借复本：4     Thompson-Russell, K. C.
    Macmillan, 1977.
    (0) 馆藏

  4. 西文图书4.Typical electron microscope investigations / TN153/E23/4

    馆藏复本：4
    可借复本：4     Edington, Jeffrey William.
    Macmillan, 1976.
    (0) 馆藏

  5. 西文图书5.Interpretation of transmission electron micrographs / TN153/E23/3, 71.221/E23:3

    馆藏复本：6
    可借复本：6     Edington, Jeffrey William.
    Macmillan, 1975.
    (0) 馆藏

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