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检索到 3 条 责任者=Joy, David C., 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Principles of analytical electron microscopy / TN153/J88

    馆藏复本：2
    可借复本：2     Joy, David C.,
    Plenum Press, c1986.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Introduction to analytical electron microscopy / TN153-53/M626

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Microbeam Analysis Society.
    Plenum Press, c1979.
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.EXAFS spectroscopy, techniques and applications / O65/T314

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Teo.B.K.
    Plenum Press, c1981.
    (0) 馆藏

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