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检索到 2 条 责任者=Venables, J. A. 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Developments in electron microscopy and analysis : proceedings of EMAG 75 held at the University... TN16-53/V447

    馆藏复本：2
    可借复本：2     Venables, J. A.
    Academic Press, 1976.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Physical aspects of microscopic characterization of materials : proceedings of the 5th Pfefferkor... TN153-53/K61

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Kirschner,J.
    Scanning Microscopy International, c1987-
    (0) 馆藏

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