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西文图书1.Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des sur... O484.5-53/C748
馆藏复本:2
可借复本:2 Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des sur...
?ditions de physique, 1983.
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西文图书2.Thin-film and depth-profile analysis / O484.5/O28
馆藏复本:1
可借复本:1 Oechsner, H.
Springer-Verlag, 1984.
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