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检索到 16 条 分类号=TN153-53 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Scanning electron microscopy, 1976. V. 1, proceedings of the pt. 1-4 April 5-9, 1976 / TN153-53/I29/1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Illinois Institute of Technology. Research Institute
    IIT Research Institute, 1976.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Proceedings ... annual meeting, Electron Microscopy Society of America. TN153-53/E38-2

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Electron Microscopy Society of America.
    San Francisco Press, 1968-1992.
    (0) 馆藏

  3. 西文图书3.Scanning electron microscopy, 1976. V. 2, proceedings of the pt. 5-8 April 5-9, 1976 / TN153-53/I29/2

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Illinois Institute of Technology. Research Institute
    IIT Research Institute, 1976.
    (0) 馆藏

  4. 西文图书4.Electron microscopy, 1980 : proceedings of the Seventh European Congress on Electron Microscopy,... TN153-53/E89/1, TN153-53/E89/3

    馆藏复本：4
    可借复本：4     European Congress on Electron Microscopy
    Seventh European Congress on Electron Microscopy Foundation, 1980.
    (0) 馆藏

  5. 西文图书5.Scanning electron microscopy/1981 : an international journal of scanning electron microscopy rela... TN153-53/A341/3

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Albrecht, R. M.
    Scanning Electron Microscopy, Inc., c1981.
    (0) 馆藏

  6. 西文图书6.Electron optical systems for microscopy, microanalysis & microlithography : proceedings of the 3r... TN153-53/P524

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Pfefferkorn Conference
    Scanning Electron Microscopy, c1984.
    (0) 馆藏

  7. 西文图书7.Scanning electron microscopy/1981 : an international journal of scanning electron microscopy rela... TN153-53/S544/2

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Shelburne, J. D.
    Scanning Electron Microscopy, Inc., c1981.
    (0) 馆藏

  8. 西文图书8.Scanning electron microscopy/1981 : an international journal of scanning electron microscopy rela... TN153-53/A341/4

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Albrecht, R. M.
    Scanning Electron Microscopy, Inc., c1981.
    (0) 馆藏

  9. 西文图书9.Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / TN153-53/R363

    馆藏复本：4
    可借复本：4     Reimer, Ludwig,
    Springer-Verlag, c1985.
    (0) 馆藏

  10. 西文图书10.Electron microscopy 1978 : papers presented at the ninth international congress on electron micro... TN153-53/I61/1, TN153-53/I61/3

    馆藏复本：2
    可借复本：2     International Congress on Electron Microscopy
    The Microscopical Society of Canada, c1978.
    (0) 馆藏

  11. 西文图书11.Scanning electron microscopy/1981 : an international journal of scanning electron microscopy, rel... TN153-53/S283/1

    馆藏复本：1
    可借复本：1     guest editors, N.J. Zaluzec, M.H.Barrows and G. E. McGuire
    Scanning Electron Microscopy, Inc., 1981
    (0) 馆藏

  12. 西文图书12.Introduction to analytical electron microscopy / TN153-53/M626

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Microbeam Analysis Society.
    Plenum Press, c1979.
    (0) 馆藏

  13. 西文图书13.Physical aspects of microscopic characterization of materials : proceedings of the 5th Pfefferkor... TN153-53/K61

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Kirschner,J.
    Scanning Microscopy International, c1987-
    (0) 馆藏

  14. 西文图书14.Surface and interface characterization by electron optical methods / TN153-53/H861

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Howie,A.
    Plenum Press : c1988.
    (0) 馆藏

  15. 西文图书15.Proceedings : thirty-eighth annual meeting TN153-53/E38

    馆藏复本：1
    可借复本：1     Electro microscopy society of America (38th: 1980:San Francico)
    Claitor's Publishing Division, c1980
    (0) 馆藏

  16. 西文图书16.Electron Microscopy society of America Proceedings [of the] fortieth Annual Meeting. TN153-53/P962

    馆藏复本：1
    可借复本：1
    D.C.,Aug , 1982.
    (0) 馆藏

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