检索到 4 条 分类号=TN304.07 的结果
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中文图书1.半导体的检测与分析 TN304.07/Z352, 73.72/2243
馆藏复本：6
可借复本：6 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
科学出版社 1984.5
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中文图书2.半导体测试技术 TN304.07/S913, 73.71/521
馆藏复本：4
可借复本：4 孙以材编著
冶金工业出版社 1984
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中文图书3.半导体器件参数测试自动化 TN304.07/K034
馆藏复本：1
可借复本：1 (苏)Ю.С.卡尔普主编
国防工业出版社 1966
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中文图书4.半导体的检测与分析.第2版 TN304.07/X981B
馆藏复本：3
可借复本：3 许振嘉主编
科学出版社 2007.8
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