检索到 8 条 分类号=TN306 的结果
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中文图书1.半导体器件可靠性 TN306/B263, 73.7314/3542
馆藏复本：11
可借复本：11 《半导体器件可靠性》编写组编
国防工业出版社 1978.3
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中文图书2.半导体器件的可靠性.第二集 73.7314/2243Q3
馆藏复本：19
可借复本：19 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书3.半导体器件的可靠性.第三集 73.7314/2243Q1
馆藏复本：11
可借复本：11 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书4.半导体器件的可靠性.第四集 73.7314/, 73.7314/2242Q1, 73.7314/224...
馆藏复本：5
可借复本：5 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书5.半导体器件的可靠性.第四集 73.7314/2243Q2
馆藏复本：15
可借复本：15 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书6.半导体器件的可靠性.专集 73.7314/2243
馆藏复本：1
可借复本：1 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1974
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西文图书7.Discrete semiconductor reliability transistor/diode data. TN306/R382
馆藏复本：1
可借复本：1 Reliability analysis center.
ILT Research Institute, 1977.
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西文图书8.Reliability physics 1978 16th annual proceedings, San Diego, California, April 18-20, 1978 / TN306-53/I61
馆藏复本：1
可借复本：1 International Reliability Physics Symposium
Electron Devices and Reliability Societies of the Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1978.
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