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检索到 4 条 分类号=TN307 的结果    

 


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  1. 中文图书1.国外集成电路测试自动化 73.75157/2343

    馆藏复本：5
    可借复本：5
    上海科学技术情报研究所 1977
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.晶体管特性图示仪原理与使用 TN307/L394

    馆藏复本：1
    可借复本：1     梁华编著
    人民邮电出版社 1980
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察 TN307/Z352

    馆藏复本：2
    可借复本：2     中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译
    上海科学技术情报研究所 1974
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.测试 TN307/B263, 73.67/3542Q2

    馆藏复本：2
    可借复本：2     《半导体器件制造技术丛书》编写组编
    国防工业出版社 1972
    (0) 馆藏

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