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检索到 11 条 分类号=TN407 的结果    

 


所有图书 可借图书

  1. 中文图书1.集成电路测试技术 TN407/W665

    馆藏复本：2
    可借复本：1     武乾文主编
    电子工业出版社 2022
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.伪集成电路检测与防护:detection and avoidance TN407/D383-2

    馆藏复本：3
    可借复本：3     (美) 马克 (穆罕默德)·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著
    国防工业出版社 2022
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.数据域测试技术及仪器 TN407/Y436

    馆藏复本：5
    可借复本：5     杨吉祥编
    科学出版社 1990.11
    (0) 馆藏

  4. 中文图书4.集成电路测试指南 TN407-62/W341

    馆藏复本：3
    可借复本：3     邬刚, 王瑞金, 包军林编著
    机械工业出版社 2021.07
    (0) 馆藏

  5. 中文图书5.固体集成电路开关时间测试 TN407/B415, 73.7552/2325

    馆藏复本：12
    可借复本：12     北京电子管厂仪表研制小组编
    机械工业出版社 1971
    (0) 馆藏

  6. 中文图书6.电子计量测试应用手册 集成电路计量测试分册 Ji Cheng Dian Lu Ji Liang Ce Shi Fen Ce

    馆藏复本：1
    可借复本：1     电子计量测试应用手册编委会[编]
    电子工业部科技情报研究所 1986
    (0) 馆藏

  7. 中文图书7.专用集成电路实验指导书 TN407/Z312

    馆藏复本：3
    可借复本：3     主编张法碧
    华中科技大学出版社 2019
    (0) 馆藏

  8. 中文图书8.集成电路认证:硬件木马与伪芯片检测:hardware trojans and counterfeit detection TN407/D383

    馆藏复本：3
    可借复本：3     (美) Mohammad Tehranipoor, Hassan Salmani, Xuehui Zhang著
    国防工业出版社 2016
    (0) 馆藏

  9. 中文图书9.国外集成电路测试仪概况 73.745/2343

    馆藏复本：1
    可借复本：1     上海科学技术情报研究所编辑
    上海科学技术情报研究所 1973
    (0) 馆藏

  10. 中文图书10.现代集成电路测试技术 TN407/S844

    馆藏复本：3
    可借复本：3     《现代集成电路测试技术》编写组[编]
    化学工业出版社 2006
    (0) 馆藏

  11. 中文图书11.常用集成电路实测数据手册 TN407-62/J721

    馆藏复本：5
    可借复本：5     蒋颂军、何晓帆主编
    化学工业出版社 2005
    (0) 馆藏

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