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中文图书1.数控系统PCB可靠性试验及其统计分析 TM215/J225
馆藏复本:3
可借复本:3 解传宁著
吉林大学出版社 2023.09
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中文图书2.输弹系统可靠性强化仿真试验与优化研究 TJ03/C442
馆藏复本:2
可借复本:2 崔凯波, 金朝编著
北京理工大学出版社 2022.01
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中文图书3.可靠性试验用表.增订本 71.2117075/2225
馆藏复本:2
可借复本:2 中国电子技术标准化 研究所编著
国防工业出版社 1987
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中文图书4.半导体器件的可靠性.第二集 73.7314/2243Q3
馆藏复本:19
可借复本:19 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书5.半导体器件的可靠性.第三集 73.7314/2243Q1
馆藏复本:11
可借复本:11 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书6.半导体器件的可靠性.第四集 73.7314/, 73.7314/2242Q1, 73.7314/224...
馆藏复本:5
可借复本:5 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书7.半导体器件的可靠性.第四集 73.7314/2243Q2
馆藏复本:15
可借复本:15 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1977
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中文图书8.半导体器件的可靠性.专集 73.7314/2243
馆藏复本:1
可借复本:1 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
科学技术文献出版社重庆分社 1974
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中文图书9.可靠性试验用表 TN06-64/D721
馆藏复本:1
可借复本:1 第四机械工业部标准化研究所编
国防工业出版社 1979
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中文图书10.集成电路可靠性 73.755/2334Q1
馆藏复本:7
可借复本:7 上海冶金研究所编译
上海科学技术情报研究所 1972
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中文图书11.电子元器件可靠性试验工程 TN606/L846
馆藏复本:3
可借复本:3 罗雯,魏建中,阳辉编著
电子工业出版社 2005.3
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中文图书12.可靠性试验技术 TJ01/Q914
馆藏复本:5
可借复本:5 中国人民解放军总装备部军事训练教材编辑工作委员会[编]
国防工业出版社 2003
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中文图书13.可靠性试验 TN606/H359
馆藏复本:5
可借复本:5 何国瑞等编著
人民邮电出版社 1989.2
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