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1. 中文图书1.半导体器件可靠性 TN306/B263, 73.7314/3542

   馆藏复本：11
   可借复本：11 《半导体器件可靠性》编写组编
   国防工业出版社 1978.3
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2. 中文图书2.半导体器件可靠性与失效分析 73.7314/213

   馆藏复本：10
   可借复本：10 卢其庆，张安康编
   江苏科学技术出版社 1981.4
   (0) 馆藏

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