-
中文图书1.半导体的检测与分析 TN304.07/Z352, 73.72/2243
馆藏复本:6
可借复本:6 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
科学出版社 1984.5
(0) 馆藏 -
中文图书2.半导体的检测与分析.第2版 TN304.07/X981B
馆藏复本:3
可借复本:3 许振嘉主编
科学出版社 2007.8
(0) 馆藏
馆藏复本:6
可借复本:6 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
科学出版社 1984.5
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:3 许振嘉主编
科学出版社 2007.8
(0) 馆藏