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中文图书1.数字集成电路:原理、设计、测试与应用 TN431.2/D744
馆藏复本:3
可借复本:0 杜树春编著
化学工业出版社 2024
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中文图书2.数字集成电路后端设计 TN431.202/T879
馆藏复本:3
可借复本:3 主编田晓华
武汉理工大学出版社 2019.08
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中文图书3.数字集成电路设计原理和运用 73.7554/244, TN431.2/L281
馆藏复本:20
可借复本:20 卢尔健,邵丙铣编
国防工业出版社 1979.8
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中文图书4.数字集成电路技术交流资料选编 73.7554083/23343, 73.7554083/2343
馆藏复本:20
可借复本:20
上海科学技术情报研究所 1976
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中文图书5.数字集成电路参数的测量 73.7554/1121
馆藏复本:10
可借复本:10 (苏)埃杜卡斯等编著
人民邮电出版社 1988.3
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中文图书6.数字集成电路的原理及应用 73.7554/331
馆藏复本:10
可借复本:10 汤之璋编著
广东科学技术出版社 1983.2
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中文图书7.数字集成电路参数的测量 TN431.2/A252
馆藏复本:3
可借复本:3 (苏)Д. Ю. 埃杜卡斯等编著
人民邮电出版社 1988
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中文图书8.数字集成电路分析和设计 TN431.2/H661, 73.7554/111Q2
馆藏复本:7
可借复本:7 (美) D·A·霍奇斯, H·G·杰克逊著
国防工业出版社 1989
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中文图书9.数字集成电路应用基础 TN431.2/W428
馆藏复本:1
可借复本:1 吴建强主编
航空工业出版社 1994
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中文图书10.数字集成电路应用与实验.第2版 TN431.2/M366B
馆藏复本:1
可借复本:1 孟贵胥, 高希玉, 徐伟明编著
国防工业出版社 1996
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中文图书11.数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误 TN431.2/L895
馆藏复本:5
可借复本:5 李晓维 ... [等] 著
科学出版社 2011
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中文图书12.数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度 TN431.207/L895
馆藏复本:3
可借复本:3 李晓维 ... [等] 著
科学出版社 2010
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中文图书13.数字集成电路基础与应用 TN431.2/S922
馆藏复本:3
可借复本:3 孙余凯,项绮明等编著
电子工业出版社 2006
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西文图书14.Digital integrated circuits : a design perspective =数字集成电路 : 设计透视 / TN431.2/R112
馆藏复本:3
可借复本:3 Rabaey, Jan M.
清华大学出版社, 1999.
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中文图书15.数字集成电路分析与设计:深亚微米工艺:In deep submicron technology TN431.2/H431-2
馆藏复本:2
可借复本:2 (美)David A. Hodges, Horace G. Jackson, Resve A. Saleh著
电子工业出版社 2005
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中文图书16.Analysis and Design of Digital Integrated Circuits:In Deep Submicron Technology:深亚微米技术.影印版 TN431.2/H431
馆藏复本:2
可借复本:2 David A.Hodges, Horace G.Jackson, Resve A.Saleh
清华大学出版社 2004
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中文图书17.数字集成电路:电路、系统与设计:A Design Perspective TN431.2/L141
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) Jan M. Rabaey, Anantha Chandrakasan, Borivoje Nikolic著
电子工业出版社 2004
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中文图书18.《数字集成电路基础》学习参考 TN431.2/Z397
馆藏复本:10
可借复本:10 邹华跃编
南京大学出版社 2001.09
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中文图书19.数字集成电路基础 TN431.2/H339
馆藏复本:5
可借复本:5 皇甫正贤主编
南京大学出版社 1994
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中文图书20.数字集成电路基础 73.7554/111
馆藏复本:9
可借复本:9 李士雄等编
高等教育出版社 1986.10
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