机读格式显示(MARC)

• 000 01611nam 2200337 450

• 001 0000444651

• 005 20231020144700.0

• 010 __ |a 978-7-121-44351-0 |b 精装 |d CNY128.00

• 100 __ |a 20221114d2022 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路测试技术 |A ji cheng dian lu ce shi ji shu |f 武乾文主编

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2022

• 215 __ |a xvii, 329页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 集成电路系列丛书 |A ji cheng dian lu xi lie cong shu |i 集成电路封装测试

• 225 2_ |a 集成电路封装测试 |A Ji Cheng Dian Lu Feng Zhuang Ce Shi

• 300 __ |a 工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程

• 312 __ |a 英文并列题名取自封面

• 314 __ |a 武乾文, 中国电子科技集团公司第五十八研究所副总工程师, 电子科技大学、南京信息工程大学兼职教授, 硕士研究生导师, 无锡市学术带头人, DSP、CPU集成电路测试专家。

• 320 __ |a 有书目 (第314-329页)

• 330 __ |a 本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章, 主要内容包括: 集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书, 可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路系列丛书 |i 集成电路封装测试

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路封装测试

• 510 1_ |a Integrated circuit testing technology |z eng

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路测试

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 武乾文 |A wu qian wen |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20221114

• 905 __ |a AUSTL |d TN407/W665