机读格式显示(MARC)

• 000 00744nam0 2200265 450

• 001 0000001498

• 005 20220916095300.0

• 010 __ |a 7-80034-363-4 |d CNY8.10

• 099 __ |a CAL 012000127742

• 100 __ |a 19971114d1991 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 半导体器件失效分析 |A ban dao ti qi jian shi xiao fen xi |f 邓永孝著

• 210 __ |a 北京 |c 宇航出版社 |d 1991

• 215 __ |a 297页 |d 20cm

• 606 0_ |a 半导体器件 |A Ban Dao Ti Qi Jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN303 |v 3

• 692 __ |a 73.732

• 701 _0 |a 邓永孝 |A Deng Yongxiao |4 著 |3 CAL n2004257989# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 801 _2 |a CN |b LZT

• 801 _0 |a CN |b NLC |c 19910911

• 905 __ |a AUSTL |d TN303/D936

• 998 __ |a PUL