机读格式显示(MARC)

• 000 00591nam0 2200205 450

• 001 0000051865

• 005 20201027103400.0

• 010 __ |d CNY11.00

• 100 __ |a 20020830d2001 mk y0chiy50 eb

• 101 0_ |a chi

• 105 __ |a y 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电力半导体器件中间测试技术 |A dian li ban dao ti qi jian zhong jian ce shi ji shu |f 王益成，苏文成编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 1990.5

• 215 __ |a 415页 |d 19厘米

• 692 __ |a 73.7317

• 701 _0 |a 王益成 |A Wang Yi Cheng |4 编著

• 701 _0 |a 苏文成 |A Su Wen Cheng

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20201027

• 905 __ |a AUSTL |d 73.7317/131