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• 010 __ |a 978-7-121-21581-0 |d CNY48.00

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• 200 1_ |a 电磁兼容及系统整机测试技术 |A Dian Ci Jian Rong Ji Xi Tong Zheng Ji Ce Shi Ji Shu |f 尚开明主编

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2013.11

• 215 __ |a 249页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书主要从两个方面介绍测试的相关技术。第一部分是硬件测试的相关技术 ; 第二部分是软件测试的相关技术。硬件测试技术介绍了常见的硬件测试项目, 说明测试标准及方法 ; 软件测试技术主要从测试计划、测试用例的设计和测试的规划上着手进行分析, 通过对BUG的分析和阐述, 正确规避风险, 并对风险进行分析, 最终形成财富库, 供测试人员共享。

• 606 0_ |a 电磁兼容性 |A Dian Ci Jian Rong Xing |x 研究

• 606 0_ |a 系统测试 |A Xi Tong Ce Shi |x 测试技术 |x 研究

• 690 __ |a TN03 |v 5

• 690 __ |a TB4 |v 5

• 701 _0 |a 尚开明 |A Shang Kai Ming |4 主编

• 801 _0 |a CN |b AUSTL |c 20140401

• 905 __ |a AUSTL |d TN03/S454