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• 200 1_ |a 半导体的检测与分析 |A Ban Dao Ti De Jian Ce Yu Fen Xi |f 许振嘉主编

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2007.8

• 215 __ |a 635页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书 |A Ban Dao Ti Ke Xue Yu Ji Shu Cong Shu

• 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要分为七章，介绍了半导体晶体的高分辩X射线衍射，光学性质检分析等。

• 410 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 半导体材料 |x 检测 |x 分析

• 690 __ |a TN304.07 |v 4

• 701 _0 |a 许振嘉 |A Xu Zhen Jia |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20070910

• 905 __ |a AUSTL |d TN304.07/X981B