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• 200 1_ |a 纳米薄膜分析基础 |A Na Mi Bo Mo Fen Xi Ji Chu |d = Fundamentals of nanoscale film analysis |f T. J. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer |z chi

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2008.06

• 215 __ |a xii, 336页 |c 图 |d 25cm

• 225 2_ |a 国外物理名著系列 |A guo wai wu li ming zhu xi lie |v 17

• 306 __ |a 由德国施普林格出版公司授权

• 320 __ |a 有书目和索引。

• 330 __ |a 本书主要研究了材料表现及从表面到几十乃至100纳米深的结构与构成，主要讨论了用入射粒子和光子来量化结构并进行成分和深度分析的材料表征方法。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外物理名著系列

• 510 1_ |a 纳米薄膜分析基基础 |z chi

• 606 0_ |a 纳米材料 |A na mi cai liao |x 薄膜 |x 英文

• 690 __ |a TB383 |v 4

• 690 __ |a O4-51 |v 4

• 701 _1 |a 阿尔弗德 |A a er fu de |g (Alford, T. J.) |4 著

• 701 _1 |a 费德曼 |A fei de man |g (Feldman, L. C.) |4 著

• 701 _1 |a 迈耶 |A mai ye |g (Mayer, J. W.) |4 著

• 801 _0 |a CN |b 新九雅图书 |c 20081023

• 905 __ |a AUSTL |d O4-51/K874-2/17