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• 200 1_ |a 集成电路测试指南 |A ji cheng dian lu ce shi zhi nan |f 邬刚, 王瑞金, 包军林编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2021.07

• 215 __ |a XIII, 257页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 华章IT

• 330 __ |a 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合, 内容涵盖半导体集成电路测试流程, 测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路测试 |j 指南

• 690 __ |a TN407-62 |v 5

• 701 _0 |a 邬刚 |A wu gang |4 编著

• 701 _0 |a 王瑞金 |A wang rui jin |4 编著

• 701 _0 |a 包军林 |A bao jun lin |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 辽批 |c 20211025

• 905 __ |a AUSTL |d TN407-62/W341